ЭЛЕКТРОННЫЙ КАТАЛОГ СИФ ОЦНТИ ВНИИДАД

👓
eng|rus
ВНИИДАД
117393, Москва, Профсоюзная, д.82
Проезд до станции метро "Калужская"
ТЕЛЕФОН ДЛЯ СПРАВОК:(495)334-81-12

Поиск :

  • Новые поступления
  • Простой поиск
  • Расширенный поиск
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Информация о фонде
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Отчет по теме "Исследование фотографических свойств вновь разрабатываемых опытных микратных негат...

Отчет по теме "Исследование фотографических свойств вновь разрабатываемых опытных микратных негат...

Нет экз.
Книга
Автор:
Отчет по теме "Исследование фотографических свойств вновь разрабатываемых опытных микратных негат...
1963 г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Книга
СИФ 4487

Отчет по теме "Исследование фотографических свойств вновь разрабатываемых опытных микратных негативных пленок" / СССР, СМ, ГАУ.- М., 1963.- 6 с.

ББК СИФ 4487




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2024  v.20.163